Nanostrukturált felületek analitikája

Vezető: Hárs György

Felületanalitika: A felületi nanostruktúrákat létrehozó vegyi folyamatok eredményeként létrejövő struktúrák összetételéről a szekunderion-tömegspektrográfia (SIMS) és az Auger spektroszkópia (AES), a komponensek kötésállapotairól pedig a röntgen-fotoelektron spektroszkópia (XPS) szolgáltat információt. Célunk e három módszerrel a kiemelt kutatási terület (NNA) analitikai támogatása, továbbá a fenti módszerek továbbfejlesztése.

Világító nanogyémántok létrehozása CVD-vel: Az Atomfizika Tanszéken (AFT) kidolgoztunk egy mikrohullámú plazmás kémiai gőzleválasztási eljárást (Mikro-CVD) szubmikronos polikristályos gyémántrétegek szilícum szubsztráton történő előállítására. Célunk, hogy a szemcseméretet 100 nm alá kerüljön, amit a növesztési paraméterek finomhangolásával érünk el. Az így létrehozott gyémántrétegeket az MTA-MFA-ben nitrogénnel adalékolják, majd az AFT-n hőkezeljük. Az analízist részben az AFT-n, részben az MTA-SZFKI-ben végezzük. Az így létrehozott szemcsék fluoreszkálnak, és apró méretük miatt számtalan alkalmazást sejtetnek, pl. biológiai markerezést.

Katódok felületén létrehozott kilépési munkát csökkentő nanostruktúrált Emix réteg kialakulásának, stabilitásának és hatékonyságának vizsgálata az erre a célra kialakítandó komplex katódvizsgáló berendezéssel